Ο σταθμός εργασίας ηλεκτροχημείας σάρωσης M370 είναι μια εντελώς νέα έννοια στον τομέα της ηλεκτροχημείας σάρωσης ανιχνευτών που έχει σχεδιαστεί με χαρακτηριστικά εξαιρετικά υψηλής ανάλυσης, μη επαφής, χωρικής ανάλυσης ηλεκτροχημικών μετρήσεων.

Το M370 είναι ένα μοναδικό σύστημα που επιτρέπει όλες τις σημερινές ηλεκτροχημικές τεχνολογίες μικροπεριφερειακών ανιχνευτών σάρωσης, καθώς και δοκιμές μικροπεριφερειακής μορφολογίας χωρίς επαφή με λέιζερ:

Ηλεκτροχημικό μικροσκόπιο σάρωσης (SECM)
Δοκιμή ηλεκτροδίων δονήσεων σάρωσης (SVET)
Σάρωση δοκιμής Κέλβιν (SKP)
Δοκιμή ηλεκτροχημικής αντίστασης μικροζώνης (LEIS)
- Δοκιμή μικροσταγγών ηλεκτρολυτών σάρωσης (SDS)
Μη αφιπτική δοκιμή μορφολογίας μικροζώνης (OSP)

Το M370 χρησιμοποιεί ένα γρήγορο, ακριβές, κλειστό σύστημα εντοπισμού x, y, z σε ανάλυση νανοκλίμακα και σε συνδυασμό με ένα εύκολο σύστημα συλλογής δεδομένων που επιλέγουν οι χρήστες ανάλογα με τα πειράματά τους. Αυτό το σύστημα έχει σχεδιαστεί ευέλικτα και με ανθρωπολογικό σχεδιασμό για να εξασφαλίσει την είσοδο της δεξαμενής, των δειγμάτων και των ανιχνευτών.

Σύστημα Ηλεκτροχημικού Μικροσκόπιου Σάρωσης SECM370

Το SECM370 είναι ένα ακριβές σύστημα μικροηλεκτροδίων σάρωσης με εξαιρετικά υψηλή χωρική ανάλυση που ανιχνεύει το ρεύμα στο διάλυμα ή εφαρμόζει ρεύμα μεταξύ του μικροηλεκτροδίου και του δείγματος. Χρησιμοποιείται για την ανίχνευση, την ανάλυση ή την αλλαγή των χημικών ιδιοτήτων της επιφάνειας και της διεπαφής του δείγματος στο διάλυμα.

2. Σάρωση σύστημα δοκιμής ανιχνευτών Calvin SKP370

Το σύστημα ανιχνευτών Scan Calvin SKP370 είναι ένα μη επαφές, μη καταστροφικό όργανο που μπορεί να χρησιμοποιηθεί για τη μέτρηση της διαφοράς λειτουργίας μεταξύ αγωγικών, επικαλυμμένων ή ημιαγωγικών υλικών και ανιχνευτών δείγματος. Αυτή η τεχνική λειτουργεί με μια δονητική χωρητική ανιχνευτή που μετρά τη διαφορά λειτουργίας μεταξύ της επιφάνειας του δείγματος και της άκρης βελόνας αναφοράς της ανιχνευτής σάρωσης με τη ρύθμιση μιας επιπλέον μπροστινής τάσης. Η λειτουργία σχετίζεται με την κατάσταση της επιφάνειας. Η μοναδική φύση της SKP επιτρέπει τη μέτρηση σε υγρά περιβάλλοντα και ακόμη και σε περιβάλλοντα αερίων, καθιστώντας αδύνατη την έρευνα σε πραγματικότητα.

Σύστημα δοκιμής ηλεκτροδίων δονήσεων SVP370

Η τεχνολογία δονητικών ηλεκτρόδων σάρωσης SVP370 (SVET) είναι μια μη καταστροφική σάρωση που χρησιμοποιεί δονητικά ανιχνευτές για τη μέτρηση των ηλεκτρικών ιδιοτήτων που παράγονται από την επιφάνεια ενός ηλεκτροχημικού δείγματος. Βεβαιωθείτε ότι οι χρήστες μπορούν να μετρήσουν και να ποσοτικοποιήσουν τις τοπικές ηλεκτροχημικές αντιδράσεις και τη διάβρωση σε πραγματικό χρόνο.

Σύστημα δοκιμής ηλεκτροχημικής αντίστασης LEIS370

Το σύστημα δοκιμής ηλεκτροχημικής αντίστασης μικροζώνης συνδυάζει την τεχνολογία ηλεκτροχημικής αντίστασης EIS και την τεχνολογία σάρωσης μικροζώνης για την ακριβή δοκιμή της αντίστασης της τοπικής μικροζώνης και των αντίστοιχων παραμέτρων.

Εφαρμογή * Σύμπλοκη απεικόνιση αντίστασης λεπτής ταινίας * απευθείας απεικόνιση μέσων ανάπτυξης πισίνας * Χαρακτηριστικά της αντίδρασης σύνθεσης σημείων φωτός * Μπαταρία * Αισθητήρας * Η παθητικότητα των μετάλλων και των κραμάτων * Δεξαμενή καυσίμου * Διαβρώση

5. Ηλεκτρολυτικό σύστημα μικροσκάρωσης σταγόνων SDS370

Το σύστημα μικροσταγόνων ηλεκτρολυτών περιορίζει την επιφάνεια επαφής του υγρού με το δείγμα και μετρά έτσι τις ηλεκτροχημικές και διαβρωτικές αντιδράσεις στις σταγόνες που βρίσκονται σε άμεση επαφή με το δείγμα. Αυτό επιτρέπει την ηλεκτροχημική δραστηριότητα να παρέχεται σε χωρική ανάλυση και να περιορίζεται σε συγκεκριμένες ποσοτικές επιφάνειες του δείγματος.

Εφαρμογή * Χαρακτηριστικό οξειδίου επιφάνειας * Έρευνα επίστρωσης * ISFET 特征化 * Σημείο διάβρωσης * Η επίδραση της ταχύτητας ροής στην τοπική διάβρωση

Μη αφιπτικό σύστημα δοκιμής μορφής μικροζώνης OSP370

Χρησιμοποιώντας αισθητήρες μετατόπισης λέιζερ χωρίς επαφή, η μονάδα OSP370 επιτρέπει τη γρήγορη και ακριβή μετρήση μη επαφής επιφάνειας με υψηλή ακρίβεια. Χωρίς να έρχεται σε επαφή με την επιφάνεια του δείγματος, μπορεί να παρέχει τρισδιάστατη εικόνα της επιφάνειας με υψηλή ανάλυση μικρότερη από 1 μm σε εύρος ύψους 10 mm.

εξαρτήματα
Διάφορα προαιρετικά εξαρτήματα, συμπεριλαμβανομένων προαιρετικών ανιχνευτών