Μέλος VIP
Hitachi FT9500 Χ-ακτινοβολία πάχος επίστρωσης
Γεννήθηκε μια σειρά προϊόντων που χρησιμοποιούν τη νεοαναπτυγμένη εστίαση ακτίνων Χ
Λεπτομέρειες προϊόντος
Γεννήθηκε μια σειρά προϊόντων που χρησιμοποιούν τη νεοαναπτυγμένη εστίαση ακτίνων Χ με πολυθειρακές σωλήνες. Επιπλέον, επικεντρώνοντας τη δομή ανίχνευσης ακτίνων Χ, η βελτιστοποίηση των διαφόρων τύπων εξαρτημάτων αυξάνει σημαντικά την ευαισθησία ανίχνευσης και επιτυγχάνει υψηλή ικανότητα επεξεργασίας χωρίς απώλεια ακρίβειας ανίχνευσης. Επίσης, ο εξοπλισμός έχει ανασχεδιαστεί για να διευκολύνει τη χρήση του δωματίου δειγματοληψίας, καθώς και τον έλεγχο των σημείων ανίχνευσης.
Ανίχνευση υψηλής ακρίβειας στο μικροσκοπικό πεδίο
Με την υιοθέτηση μιας νεοαναπτυγμένης πολυθειρακής σωλήνας και τη βελτιστοποίηση του ανιχνευτή, η ισχύς επεξεργασίας αυξήθηκε περαιτέρω σε περισσότερο από δύο φορές με βάση την επίτευξη μιας ακτίνας ακτινοβολίας ισοδύναμης με το παλαιότερο μοντέλο FT9500X των 30 μm (FWHM: 17 μm).
Η σειρά προϊόντων προσαρμόζεται σε διάφορα δείγματα ελέγχου
Για διάφορους τύπους δειγμάτων ανίχνευσης, μπορείτε να επιλέξετε από τα ακόλουθα 3 μοντέλα.
· Μοντέλα μικροσκοπικών εξαρτημάτων, εξαιρετικά λεπτών ταινιών για διάφορους τύπους ηλεκτρονικών εξαρτημάτων, όπως βάσεις μολύβδου, συνδέσεις και άλλα
· Δυνατότητα χειρισμού μεγέθους600 mm × 600 mm μοντέλο για μεγάλες πίνακες τυπωμένων κυκλωμάτων
· Κατάλληλο για τμήματα ηλεκτροδίων σε κεραμικά τσιπ που ήταν δύσκολο να μετρηθούν ταυτόχρονα στο παρελθόνΜοντέλο για μέτρηση υψηλής ενέργειας σε δύο στρώματα Sn/Ni
Να εξισορροπεί ευκολία λειτουργίας και ασφάλεια
Μεγαλώνει το άνοιγμα, ενώ η πόρτα του δωματίου δείγματος μπορεί εύκολα να ανοίξει και να κλείσει με ένα χέρι. Έτσι, βελτιώνεται η ευκολία λειτουργίας της αφαίρεσης και τοποθέτησης των δειγμάτων ανίχνευσης και η σφραγισμένη δομή μειώνει σημαντικά τον κίνδυνο διαρροής ακτίνων Χ, δίνοντας στους χρήστες ασφάλεια στη χρήση.
Η θέση ανίχνευσης είναι ορατή
Με τη ρύθμιση μεγάλων παραθύρων παρατήρησης και την τροποποίηση της διάταξης των εξαρτημάτων, η πόρτα του δωματίου δείγματος μπορεί να παρατηρηθεί εύκολα και σε κλειστή κατάσταση.
Καθαρή εικόνα δείγματος
Χρησιμοποιώντας μια κάμερα παρατήρησης δειγμάτων υψηλότερης ανάλυσης από ποτέ, με πλήρες ψηφιακό ζουμ, εξαλείφοντας έτσι την απόκλιση της θέσης και επιτρέποντας την σαφή παρατήρηση δεκάδων μικροσκοπικών δειγμάτων μm.
Επίσης, το LED χρησιμοποιείται ως δείγμα του φωτός παρατήρησης, χωρίς να χρειάζεται να αντικατασταθούν οι λαμπτήρες όπως τα προηγούμενα μοντέλα.
Νέο GUI
Οι διάφορες μέθοδοι ανίχνευσης και τα δείγματα ανίχνευσης έχουν καταχωρηθεί με τη μορφή εικονιδίων εφαρμογής. Τα εικονίδια είναι φωτογραφίες δείγματος ανίχνευσης, εικονίδια πολυστρωματικής μεμβράνης κ.λπ., επομένως η καταχώριση και η οργάνωση είναι εύκολη, έτσι ώστε οι χρήστες να μπορούν να μην κάνουν καμπύλες και να πραγματοποιούν άμεση ανίχνευση.
Χρησιμοποιήστε το παράθυρο του οδηγού ανίχνευσης για να καθοδηγήσετε τις ενέργειες. Με τη σύνδεση με την οθόνη ανίχνευσης, οδηγείτε σταδιακά τον χρήστη στην εκτέλεση της τρέχουσας εργασίας που απαιτείται.
| μοντέλο | FT150 (τυποποιημένος τύπος) | FT150h (υψηλής ενέργειας) | FT150L (για μεγάλες πλακέτες) |
|---|---|---|---|
| Μέτρηση στοιχείων | Ατομικοί αριθμοί 13 (Al) έως 92 (U) | ||
| Πηγή ακτίνων Χ | Τάση σωλήνων: 45 kV | ||
| Μόταργκ | Wστόχος | Μόταργκ | |
| ανιχνευτής | Ανίχνευση ημιαγωγών Si (SDD) (χωρίς υγρό άζώτο) | ||
| Συγκέντρωση ακτίνων Χ | Μέθοδος αγωγού εστίασης | ||
| Παρατήρηση δείγματος | Κάμερα CCD (1 εκατομμύριο pixel) | ||
| εστίαση | Λέιζερ εστίαση, αυτόματη εστίαση | ||
| Μέγιστο μέγεθος δείγματος | 400(W) × 300(D) × 100(H) mm | 400(W) × 300(D) × 100(H) mm | 600(W) × 600(D) × 20(H) mm |
| Ταξίδι τραπέζιου εργασίας | 400(W) × 300(D) mm | 400(W) × 300(D) mm | 300(W) × 300(D) mm |
| Λειτουργικό σύστημα | Υπολογιστής, οθόνη LCD 22 ιντσών | ||
| Λογισμικό μέτρησης | Μέθοδος FP λεπτής ταινίας (έως 5 στρώματα ταινίας, 10 στοιχεία), γραμμή επιθεώρησης, ποιητική ανάλυση | ||
| Επεξεργασία δεδομένων | Εγκατάσταση του Microsoft Excel και του Microsoft Word | ||
| Ασφάλεια | Δείγματα πόρτα κλειδαριασμού | ||
| Κατανάλωση ενέργειας | Κάτω από 300 VA | ||
Επιλογές
Λογισμικό ταιριάσματος φάσματος (αναγνώριση υλικών)
ΜπλοκFP (μέτρηση αναλογίας μετάλλων)
Ρυθμίσεις περιορισμού λειτουργίας δείγματος
Εργαλεία (FT150／FT150h）
Πίνακα αφής
Φως σήματος
Εκτυπωτής
Κιβώτιο διακόπτη έκτακτης ανάγκης
- Μετρητής πάχους ακτίνων Χ υψηλής απόδοσης FT150
Η FT150 χρησιμοποιεί ακτίνες ακτίνων Χ υψηλής έντασης με διάμετρο 30 µm που παράγονται από πολυθειραιώδεις σωλήνες και είναι ιδανική για την αναλυτική αξιολόγηση υψηλής ακρίβειας μικρών εξαρτημάτων όπως καλωδίων, μικροσκοπικών συνδετήρων, ευέλικτων πίνακων κυκλωμάτων και εξαιρετικά λεπτών επικάλυψεων.
Ηλεκτρονική έρευνα
-
Επαφές
-
Εταιρεία
-
Τηλέφωνο
-
Ηλεκτρονικό ταχυδρομείο
-
WeChat
-
Κωδικός επαλήθευσης
-
Περιεχόμενο μηνύματος
-