
Εισαγωγή προϊόντων
FT110ΑΕίναι ένα τραπέζι.το XRFΑναλυτές που έχουν σχεδιαστεί για να αντιμετωπίσουν τις προκλήσεις της ανάλυσης επικάλυψης στην παραγωγή. Ισχυρό.ΧΗ τεχνολογία ακτινοβολίας σε συνδυασμό με τη δυνατότητα αυτόματης τοποθέτησης συμβάλλει στην αύξηση της παραγωγικότητας στο εργοστάσιο επικάλυψης, εξασφαλίζοντας παράλληλα ότι τα εξαρτήματα πληρούν υψηλά πρότυπα.
Η ακρίβεια και η αξιοπιστία υποστηρίζουν τον ποιοτικό έλεγχοτο XRFΟ πυρήνας της ανάλυσης, ενώFT110ΑΠαρέχει την ακρίβεια που απαιτούνται για τα σημερινά εξαρτήματα επικάλυψης. Τα ενημερωμένα συστήματα απεικόνισης, η αυτόματη τοποθέτηση δειγμάτων και ο μεγάλος πίνακας δείγματος καθιστούν τον αναλυτή εξαιρετικά εύκολο στη χρήση, βελτιώνοντας την ροή και μειώνοντας τα ανθρώπινα λάθη. ΙσχυρόFT110ΑΜε τη δυνατότητα μετρήσεων έως και τεσσάρων στρωμάτων ταυτόχρονα και υποδομών, θα υποστηρίξετε τις εγκαταστάσεις σας να πληρούν τις υψηλότερες προδιαγραφές ηλεκτροεπικάλυψης της βιομηχανίας όλο το 24ωρο.
Χαρακτηριστικά προϊόντος
Σχεδιασμένο για παραγωγή υψηλής ροήςFT110ΑΠώς να υποστηρίξετε τον ποιοτικό έλεγχο σας
Ισχυρή τεχνολογία υψηλής ευαισθησίας που παρέχει αποτελέσματα σε λίγα δευτερόλεπτα
Ασφαλής έλεγχος της ασφάλειας των τελικών προϊόντων
Η αυτοματοποίηση αυξάνει την παραγωγικότητα
Ανάλυση έως και τεσσάρων στρωμάτων και υποκείμενα, σε συνδυασμό με το ηλεκτροπλαστικό υγρό
Εύκολη χρήση από μη επαγγελματίες χειριστές
Η μέθοδος μέτρησης συμμορφώνεταιπρότυπο ISO 3497και,ASTM Β568καιΔΙΝ 50987
Μεγάλες αίθουσες δείγματος μπορούν να φιλοξενήσουν διάφορα δείγματα
Προσαρμόσιμες επιλογές για την εφαρμογή σας
Τεχνικές παραμέτρους
|
FT110Α |
|
|
Περιοχή στοιχείων |
Τι-U |
|
ανιχνευτής |
Σύστημα μετρητών |
|
Σχεδιασμός καμπίνας δείγματος |
Ανοιχτός ή κλειστός |
|
Αριθμός ευθυγράμμων |
2 ή4 |
|
Ελάχιστος ισορθωτής |
0,025 Χ 0,4 χιλ. |
|
ΧΥΕπιλογή δείγματος άξονα |
Πρόγραμμα ελέγχου ή σταθεροποίησης |
|
ΧΥΔιαδρομή δείγματος άξονα |
250 x 200 χιλ. |
|
Ελέγχου προγράμματοςΖΔιαδρομή άξονα |
150 χιλ. |
|
Μέγιστο μέγεθος δείγματος |
500 Χ 400 Χ 150 χιλ. |
|
Δείγματα εστίασης |
Λέιζερ εστίασης και προαιρετική αυτόματη εστίαση |
|
Προβολή δείγματος |
Προβολή κάμερας και προαιρετική δεύτερη κάμερα ευρείας γωνίας |
|
Αναγνώριση σημείων μέτρησης |
Προαιρετικό |
|
Λογισμικό |
Σταθμός ακτίνων Χ |
