Μικροσκόπιο LeicaDM12000MΧρησιμοποιώντας την οπτική αρχή, το δείγμα που μετράται τοποθετείται σε μια πλατφόρμα παρατήρησης στο μικροσκόπιο και η εικόνα του δείγματος μεγαλώνεται στα γυαλιά του μικροσκόπιο μέσω της αντανάκλασης ή της μετάδοσης του φωτός. Με τις ιδιότητες του δείγματος για τη διάσπαση και την απορρόφηση του φωτός, το φαινόμενο της εικόνας του δείγματος κατά την απεικόνιση αλλάζει συνεχώς με την αλλαγή των παραμέτρων. Ο παρατηρητής μπορεί να κρίνει τη μικροδομή και τον ιστό του δείγματος με βάση αυτές τις αλλαγές.

Χαρακτηριστικά του μικροσκόπιου Leica DM12000M:

Ένας εντελώς νέος οπτικός σχεδιασμός που μπορεί να προσφέρει γρήγορη αρχική επιθεώρηση σε μακροπρότυπο και λειτουργία κλίσης υπεριώδους διαδρομής (OUV, κλίση υπεριώδου παρατήρησης), όχι μόνο βελτιώνει την ανάλυση, αλλά και την παραγωγική ικανότητα ελέγχου των πλακέτων πυριτίου 12 ιντσών (300 mm). Η νέα τεχνολογία φωτισμού LED έχει σχεδιαστεί και ενσωματωθεί στο μικροσκόπιο, η χαμηλή θερμική ακτινοβολία και η τεχνολογία ενσωμάτωσης στο σώμα εξασφαλίζουν την ιδανική κατάσταση ροής αέρα έξω από το σώμα.

Το μικροσκόπιο Leica DM12000M μειώνει τη χρήση του ελέγχου και βελτιώνει την αποτελεσματικότητα του ελέγχου Το εξαρτήματα αυτόματης εστίασης για τον φωτισμό ελέγχου μετάδοσης φωτός μπορεί να συνεργαστεί με όλους τους τρόπους παρατήρησης του αντανακλαστικού φωτισμού, ακόμη και με την παρατήρηση του σκοτεινού πεδίου και της διαφορικής παρεμβολής. Η αυτόματη εστίαση είναι γρήγορη και ακριβής και μπορεί να βρεθεί με ακρίβεια σε πραγματικό χρόνο ακόμη και όταν αλλάζει ο τρόπος παρατήρησης.

Τρίτον, δύο τύποι φωτισμού είναι διαθέσιμα, γενικός τύπος και υψηλή τιμή διάτρωμα τύπου. Για το FPD, ο έλεγχος της πλακέτας MASK παρέχει τον κατάλληλο φωτισμό και μπορεί να εξοπλιστεί με πολιοποιητικό καθρέφτη για την εύκολη πολιοποιητική παρατήρηση του προβολικού φωτός. Υψηλή αντίθεση, υψηλότερη ανάλυση, υψηλότερη διεύρυνση Έλεγχος φθοροσκοπικής παρατήρησης που χρησιμοποιείται για τον έλεγχο υπολειμμάτων φωτογραφικής κολλής Ενότητα φθοροσκοπικής φωτογραφίας Το οπτικό σύστημα UV μπορεί να παρέχει υψηλότερη αντίθεση και ανάλυση, με ανάλυση έως και 0,12 μm.

Τέταρτον, διαθέσιμες διάφορες μεθόδους φθοροδότησης όπως U.B.G, για τα υπολείμματα κολλής και τον έλεγχο OLED. Εύκολη διεπαφή επικοινωνίας για τον έλεγχο και τις παραμέτρους της μεγέθυνσης μικροσκόπιου και της φωτεινής προσάρτησης διάφρασης Αποκτήστε το RS232C για την εσωτερική επιθεώρηση των πλάκων και των συσκευών, ακόμη και των πόδιων συγκόλλησης Τα τυποποιημένα εξαρτήματα κοντινής υπερκόκκινης παρατήρησης περιλαμβάνουν μια διεπαφή RS232C, η οποία επιτρέπει τον έλεγχο των ηλεκτρικών τμημάτων του μικροσκόπιου με τον υπολογιστή, και μπορεί να επιτευχθεί ώστε αρκετά

5, συμπεριλαμβανομένων ειδικών υπερκόκκινων αντικειμένων και άλλων εξαρτημάτων, για τη διόρθωση της διαφοράς από το ορατό φως στο φως της κοντινής υπερκόκκινης ζώνης, για βαθύς ή εσωτερικούς ελέγχους IC, μπορεί να επιτευχθεί η πλήρης εξέταση του WAFER BUMP αυτόματη μετρήσεις CD με τεχνολογία υποεικονογράφων για την εξαιρετική ακρίβεια μετρήσεων CD.

Ο σχεδιασμός εξοικονόμησης ενέργειας με χαμηλή κατανάλωση ενέργειας παρατείνει σημαντικά τη διάρκεια ζωής, σύμφωνα με την ιδέα της πράσινης προστασίας του περιβάλλοντος. Ο σχεδιασμός χειρισμού με ένα κλικ επιτρέπει στους χρήστες να ολοκληρώσουν εύκολα τη μετατροπή μεγέθυνσης και τα συναφή εφέ φωτισμού και επιφάνειας.